Boundary scan
Testmetod där en skiftregisterkedja runt varje kretspinne låter en tekniker läsa och styra kretskortets ledningar utan att röra dem fysiskt.
Det var det här JTAG egentligen uppfanns för. Joint Test Action Group bildades 1985 när ytmonterade kapslar gjorde det omöjligt att nå varje pinne med testnålar, och standarden IEEE 1149.1 kom 1990. Mellan kärnlogiken och varje pinne sitter en boundary-scan-cell, och cellerna är kopplade i en lång kedja. Med instruktionen EXTEST skiftar man in ett mönster, låter det gå ut på pinnarna och läser vad grannkretsarna ser.
På så sätt hittas kalla lödfogar och kortslutningar under BGA-kapslar, där ingen mätspets når. Varje krets beskrivs av en BSDL-fil som anger kedjans längd och ordning. Att samma port senare blev standardvägen för att felsöka och dumpa firmware var en bieffekt — en som säkerhetsfolk tackar för än i dag.