JTAG
Joint Test Action Group (IEEE 1149.1) — ett standardgränssnitt för att testa, felsöka och programmera chip på kretskortsnivå. Ursprungligen för "boundary scan" (testa lödningar utan mätspetsar), idag oumbärligt för debugging, flashning och hårdvaru-hacking.
Mekanik: en kedja av "test access ports" (TAP) med några ledningar (TCK, TMS, TDI, TDO) som kan läsa/sätta varje pinne på ett chip och stega instruktioner internt. Use case: ladda firmware, sätta breakpoints i en CPU, dumpa minne, testa kretskort i produktion (boundary scan upptäcker kalla lödningar). Inom säkerhet: en exponerad JTAG-port är en guldgruva (full kontroll över enheten) → tillverkare försöker låsa/dölja den. SWD (Serial Wire Debug) är ARM:s tvåledningsvariant. Klassiskt verktyg för reverse engineering av inbäddade enheter (routrar, IoT). Att hitta JTAG-pads på ett kretskort är ofta första steget i en hårdvaruattack.