バウンダリスキャン
チップの全ピンを取り巻くシフトレジスタの鎖を使い、基板上の配線に触れることなく信号を読み書きする試験手法である。
本来JTAGはこのために生まれた。Joint Test Action Groupが結成されたのは1985年で、表面実装パッケージの普及により、すべてのピンに針（ベッド・オブ・ネイルズ）を当てることができなくなっていた。IEEE 1149.1は1990年に制定されている。コアロジックと各ピンの間にバウンダリスキャンセルが置かれ、それらが数珠つなぎになる。EXTEST命令でパターンをシフトインしてピンに出力し、隣のチップが受け取った値を読み戻す。
プローブの届かないBGAの下に潜むはんだ割れやショートは、こうして見つけられる。各チップにはチェーンの長さと順序を記したBSDLファイルが付属する。同じポートがデバッグやファームウェア抽出の標準手段になったのは副産物にすぎないが、セキュリティ研究者はこれに感謝し続けている。