Boundary scan
Metoda testowania, w której łańcuch rejestrów przesuwnych opasujący każdy wyprowadzony pin układu pozwala odczytywać i wysterowywać ścieżki płytki bez dotykania ich sondą.
Do tego właśnie wymyślono JTAG. Joint Test Action Group powstała w 1985 roku, gdy obudowy do montażu powierzchniowego uniemożliwiły sięgnięcie do każdego pinu łożem igieł, a norma IEEE 1149.1 pojawiła się w 1990. Komórka boundary scan siedzi między logiką wewnętrzną a każdym pinem, a komórki są połączone w łańcuch. Instrukcją EXTEST wsuwasz wzorzec, wystawiasz go na piny i odczytujesz, co widzą sąsiednie układy.
Tak znajduje się zimne luty i zwarcia pod obudowami BGA, gdzie żadna sonda nie dosięgnie. Każdy układ ma plik BSDL opisujący długość i kolejność jego łańcucha. To, że ten sam port stał się standardowym sposobem debugowania i zrzucania firmware'u, było efektem ubocznym — za który badacze bezpieczeństwa pozostają wdzięczni.