Scanketen
Alle flip-flops van een chip tot één lang schuifregister verbinden dat alleen tijdens het testen wordt gebruikt. Zonder dit is een moderne chip helemaal niet te testen.
Het probleem is dat een sequentiële schakeling met honderden miljoenen interne toestanden niet van buitenaf te onderzoeken is — er bestaat geen combinatie van ingangssignalen die tot in het midden reikt. De oplossing is dat elke flip-flop een multiplexer op zijn ingang krijgt en dat ze in testmodus tot een keten worden herverbonden. De tester schuift een willekeurige toestand in, geeft één klokpuls zodat de logica ertussen rekent en schuift het resultaat uit ter vergelijking. De testvectoren worden automatisch uit het ontwerp gegenereerd. De prijs is een paar procent oppervlak en een beetje extra vertraging op elke flop. Toegang loopt normaal via JTAG, waardoor de keten ook een bekend beveiligingsrisico is — hij kan net zo goed gebruikt worden om geheimen uit te lezen.