JTAG
Joint Test Action Group (IEEE 1149.1): een standaardinterface om chips op printplaatniveau te testen, te debuggen en te programmeren. Oorspronkelijk bedoeld voor „boundary scan” (soldeerverbindingen testen zonder probes), tegenwoordig onmisbaar voor debuggen, flashen en hardware hacken.
Werking: een keten van „test access ports” (TAP) met enkele draden (TCK, TMS, TDI, TDO) waarmee elke pin van een chip kan worden gelezen of gezet en instructies intern stapsgewijs worden uitgevoerd. Toepassingen: firmware laden, breakpoints in een cpu zetten, geheugen dumpen, borden testen in de productie (boundary scan vindt koude soldeerverbindingen). In de beveiliging is een open JTAG-poort een goudmijn (volledige controle over het apparaat), dus fabrikanten proberen hem af te sluiten of te verstoppen. SWD (Serial Wire Debug) is de tweedraads variant van ARM. Een klassiek hulpmiddel bij reverse engineering van embedded apparaten (routers, IoT). JTAG-pads op een print vinden is vaak de eerste stap van een hardwareaanval.