スキャンチェーン
チップ内のすべてのフリップフロップを、テスト時だけ使う一本の長いシフトレジスタにつなぐ仕組み。これがなければ、現代のチップはそもそもテストできない。
問題は、内部状態が数億にもなる順序回路は、外部から調べようがないことだ。中間に届く入力信号の組み合わせは存在しない。解決策は、各フリップフロップの入力にマルチプレクサを付け、テストモードでは鎖状に配線し直すこと。テスタは任意の状態をシフトインし、クロックを1回パルスさせてフリップフロップ間の論理に計算させ、結果をシフトアウトして期待値と比較する。テストベクタは設計から自動生成される。
代償は、数パーセントの面積と、各フリップフロップに加わるわずかな遅延である。アクセスは通常 JTAG 経由で、そのためスキャンチェーンはセキュリティ上の懸念としても知られている。同じ経路で秘密情報を読み出すこともできてしまう。