Single event upset (SEU)
Un bit que cambia de valor porque una partícula cargada tuvo a bien atravesar el transistor: un fallo sin bug y sin código al que culpar.
Una partícula ionizante deja un rastro de carga en el silicio, y si basta para invertir una celda de memoria o un biestable se produce un error blando: el circuito está intacto, los datos no. En el espacio es lo habitual. A nivel del suelo, la mayoría los causan neutrones secundarios de los rayos cósmicos, y la tasa sube con la altitud y con cada reducción del transistor.
El caso más citado son las elecciones municipales de 2003 en Schaerbeek, Bélgica, donde una candidata recibió exactamente 4096 votos de más: un único bit. Las defensas son memoria ECC, scrubbing que lee y corrige en segundo plano, núcleos en lockstep que se vigilan mutuamente, redundancia modular triple y, como último recurso, un watchdog que reinicie lo que se haya colgado de todos modos.