Single event upset (SEU)
En bit som byter värde för att en laddad partikel råkade passera genom transistorn — ett fel utan bugg, som ingen kod orsakat.
En joniserande partikel lämnar ett laddningsspår i kislet, och räcker laddningen för att vända en minnescell eller en vippa har man ett mjukt fel: kretsen är hel, men datan är fel. I rymden är det vardag. På marken står sekundära neutroner från kosmisk strålning för det mesta, och risken ökar med höjden och med krympande transistorer.
Det mest citerade fallet är kommunalvalet i belgiska Schaerbeek 2003, där en kandidat fick exakt 4096 röster för mycket — en enda bit. Motmedlen är ECC i minnet, scrubbing som läser och rättar i bakgrunden, lockstep-kärnor som jämför varandra, trippelredundans och, som sista utväg, en watchdog som startar om det som ändå hängt sig.