Boundary scan
Método de prueba en el que una cadena de registros de desplazamiento alrededor de cada pin permite leer y controlar las pistas de una placa sin tocarlas.
Para esto se inventó realmente JTAG. El Joint Test Action Group se formó en 1985, cuando los encapsulados de montaje superficial hicieron imposible llegar a cada pin con una cama de agujas, y la norma IEEE 1149.1 llegó en 1990. Entre la lógica interna y cada pin hay una celda de boundary scan, y todas forman una cadena. Con la instrucción EXTEST se introduce un patrón, se saca por los pines y se lee lo que ven los chips vecinos.
Así se detectan soldaduras frías y cortocircuitos bajo encapsulados BGA, donde no llega ninguna punta de prueba. Cada chip viene con un archivo BSDL que describe la longitud y el orden de su cadena. Que el mismo puerto acabara siendo la vía estándar para depurar y volcar firmware fue un efecto secundario, que los investigadores de seguridad siguen agradeciendo.