Análise eletromagnética
Mede o vazamento eletromagnético de um circuito em vez do consumo de energia, e consegue apontar a medição para uma pequena região do chip.
Jean-Jacques Quisquater e David Samyde apresentaram o método em 2001, no contexto de smart cards. Uma pequena bobina perto do chip capta a radiação dos transistores chaveando. Como a bobina pode ser movida sobre o die, cada posição dá um padrão de sinal diferente, e fica possível mirar justamente o bloco que executa a rodada do AES.
Não é preciso nenhuma conexão elétrica com o circuito, então filtrar a fonte de alimentação não adianta. As contramedidas usuais são blindagem, jitter de clock e mascaramento dos valores que vazam. É fácil confundir com o TEMPEST, que trata de espionar telas e cabos, e não de extrair chaves de um chip.