Scan chain
Collegare tutti i flip-flop di un chip in un unico lungo shift register usato solo durante il test. Senza di esso un chip moderno non si può testare affatto.
Il problema è che un circuito sequenziale con centinaia di milioni di stati interni non può essere esaminato dall'esterno: nessuna combinazione di segnali in ingresso arriva fino al centro. La soluzione è dotare ogni flip-flop di un multiplexer sull'ingresso e, in modalità test, ricollegarli in catena. Il tester inserisce uno stato arbitrario, invia un solo impulso di clock perché la logica tra i flop calcoli e fa uscire il risultato per il confronto. I vettori di test sono generati automaticamente dal progetto. Il costo è pochi punti percentuali di area e un piccolo ritardo aggiuntivo su ogni flop. L'accesso avviene normalmente tramite JTAG, il che rende la catena anche un noto problema di sicurezza: può servire altrettanto bene a leggere segreti.